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泰勒霍普森粗糙度儀 SURTRONIC DUO 信息
點(diǎn)擊次數(shù):70 更新時(shí)間:2025-10-16

泰勒霍普森粗糙度儀 SURTRONIC DUO 的測量原理是基于精密的機(jī)械傳感與數(shù)字化數(shù)據(jù)處理。具體如下:

機(jī)械傳感:儀器通過耐磨的金剛石測針和精密機(jī)動(dòng)驅(qū)動(dòng)裝置,帶動(dòng)測針沿被測表面水平等速滑行。當(dāng)測針劃過表面波峰和波谷時(shí),會產(chǎn)生垂直位移,高靈敏度壓電傳感器捕捉該位移,并通過壓電效應(yīng)將其轉(zhuǎn)化為電信號。

數(shù)字化處理:產(chǎn)生的電信號經(jīng)模數(shù)轉(zhuǎn)換等處理后變?yōu)閿?shù)字信號,傳輸至微處理器。微處理器依據(jù)國際標(biāo)準(zhǔn)制定的算法(如 ISO 4287)對數(shù)字信號進(jìn)行分析計(jì)算,得出表面粗糙度參數(shù),最終在液晶顯示器上顯示測量結(jié)果,也可通過打印機(jī)輸出或與 PC 機(jī)通訊傳輸數(shù)據(jù)。

其常用的測量參數(shù)包括幅值參數(shù)、間距參數(shù)和混合參數(shù),具體介紹如下:

幅值參數(shù):用于描述表面偏差的垂直特征。如 Ra 是算術(shù)平均值偏差,反映輪廓的平均高度變化;Rz 為平均峰谷高度,體現(xiàn)了一定測量長度內(nèi)峰谷高度的平均值;Rt 是輪廓總高度,指輪廓上高點(diǎn)到低點(diǎn)的距離。

間距參數(shù):主要測量表面偏差的水平特征。其中 RPc 表示峰數(shù)量,可反映表面峰的密集程度;RSm 是輪廓元素的平均寬度,能體現(xiàn)輪廓上各元素在水平方向的平均寬度情況。

混合參數(shù):是間距和幅值參數(shù)的組合。例如 Rmr 為材料支撐比,用于評估表面在不同高度下的材料分布情況,對分析零件的耐磨性等性能有重要作用;Rda - R Delta a(算術(shù)平均斜率)則綜合了輪廓的斜率信息,可輔助判斷表面的紋理特征等。


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