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Niton XL2 Plus 是一款專為應對嚴苛工業(yè)環(huán)境挑戰(zhàn)而設計的高性能、多功能手持式X射線熒光（XRF）分析儀，旨在提供快速、準確且可靠的現(xiàn)場元素分析。
高靈敏度與準確性：
配備 2W X射線管 和 新一代硅漂移探測器 (SDD)，確保每次測量都具有高靈敏度和低檢測限。
采用 智能基本參數(shù)法 (FP) 校正樣品基體效應，確保在不同材料（如合金、礦石、土壤）上都能獲得準確的結果。
堅固耐用，適應惡劣環(huán)境：
具有 IP54 防護等級，能夠有效防塵、防潮，確保在潮濕、多塵的工業(yè)現(xiàn)場穩(wěn)定運行。
配備標準的 Detector ProGuard 保護裝置，可有效降低在分析尖銳物品時探測器被穿刺的風險。
操作簡便，高效便捷：
擁有 簡潔的觸摸屏界面，支持通過觸摸或可選的方向鍵進行快速導航，操作直觀。
采用 熱插拔電池 設計，可在不關機的情況下更換電池，保證長時間連續(xù)工作，提高現(xiàn)場工作效率。
集成 微型攝像頭 和 鼻錐防護準直裝置，幫助操作員精確定位測量點，確保每次測量的準確性。
多功能應用：
能夠快速識別純金屬和合金牌號。
可用于檢測材料中的雜質元素。
支持地球化學分析，獲取礦石品位數(shù)據(jù)。
可測量單個元件層的涂層厚度。
適用于金銀等貴金屬的成分分析。
主要應用領域
材料驗證：在生產(chǎn)過程中驗證所使用的金屬和合金。
質量保證/質量控制 (QA/QC)：在來料檢驗和生產(chǎn)過程中正確鑒別材料，確保產(chǎn)品符合標準。
廢料回收：在廢料場進行自動分揀，快速區(qū)分不同種類的金屬。
涂層分析：測量金屬表面鍍層（如鍍鋅、鍍鉻）的厚度。
貴金屬分析：用于珠寶、回收金等領域的貴金屬（金、銀、鉑、鈀等）純度分析。
礦業(yè)與勘探：用于礦石貿(mào)易、品位控制和地球化學勘查。
